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功能:
EFL、BFL、FFL、軸上MTF、曲率半徑等非接觸式測量。
可擴展功能:
? 人工晶體IOL(屈光度)
? 平面光學(xué)元件角度
? C-Lens(EFL)
? 多波段測量能力
? 透射或反射式中心偏差
? 非球面鏡頭中心偏差
? 透鏡中心厚度
?光學(xué)系統(tǒng)空氣間隔
性能:
測量范圍: EFL: ±1-±2000mm
R: ±2-±400mm (標(biāo)配,可擴展)
測量精度: EFL ±5-±25mm:0.1-0.3%
EFL ±25-±500mm:0.03%-0.1%
EFL ±500-±2000mm:0.05%-0.3%
重復(fù)精度: 0.03-0.2%
詳細(xì)指標(biāo):
標(biāo)配:
產(chǎn)品型號 |
OptiSpheric® AF 250 |
OptiSpheric® AF 450 |
OptiSpheric® AF 1000 |
OptiSpheric® AF 0 |
OptiSpheric® AF 2000 |
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被測樣品直徑 |
3...35 mm |
3...35 mm |
3...75 mm |
3...75 mm |
3...75 mm |
|
通光孔徑 |
30mm |
30mm |
50mm |
50mm |
50mm |
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測量范圍 |
EFL |
+5... +250 mm -5... -250 mm |
+5... +500 mm -5... -500 mm |
+5... +1000 mm -5... -1000 mm |
+5... +0 mm -5... -1200 mm |
+5... +2000 mm -5... -2000 mm |
MTF |
5...50 mm EFL |
5...50 mm EFL |
5...100 mm EFL |
5...100 mm EFL |
5...100 mm EFL |
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BFL |
5...200 mm |
5...350 mm |
5...500 mm |
5...700 mm |
5...1000 mm |
|
R |
5...200 mm |
5...350 mm |
5...500 mm |
5...700 mm |
5...1000 mm |
|
測量精度 |
EFL |
5...25mm: 0.1...0.3% 25...500mm: 0.03...0.1% 500...2000mm: 0.05...0.3% |
||||
MTF |
±0.02 |
|||||
BFL |
0.05...0.3% |
|||||
R |
0.05...0.3% |
|||||
重復(fù)精度 |
EFL |
0.03...0.2% |
||||
MTF |
±0.01 |
|||||
BFL |
0.03...0.2% |
|||||
R |
0.03...0.2% |
擴展:
中心偏差測量
中心偏差測量 |
OptiSpheric® AF 250 |
OptiSpheric® AF 450 |
OptiSpheric® AF 1000 |
OptiSpheric® AF 0 |
OptiSpheric® AF 2000 |
測量范圍(R/EFL) |
+5... +250 mm -5... -250 mm |
+5... +350 mm -5... -350 mm |
+5... +500 mm -5... -500 mm |
+5... +500 mm -5... -500 mm |
+5... +500 mm -5... -500 mm |
擴展范圍(R/EFL) |
±2000mm |
||||
測量精度 |
±2″ 或 ±0.2μm |
||||
重復(fù)精度 |
±1″ 或 ±0.1μm |
平面光學(xué)元件角度測量
角度測量 |
OptiSpheric® AF 250 |
OptiSpheric® AF 450 |
OptiSpheric® AF 1000 |
OptiSpheric® AF 0 |
OptiSpheric® AF 2000 |
測量精度 |
±1.3″ |
||||
重復(fù)精度 |
±0.2″ |
||||
分辨率 |
0.01″ |
光學(xué)系統(tǒng)空氣間隔測量
空氣間隔 |
OptiSpheric® AF 250 |
OptiSpheric® AF 450 |
OptiSpheric® AF 1000 |
OptiSpheric® AF 0 |
OptiSpheric® AF 2000 |
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測量范圍: |
400mm / 600mm / 800mm光程可選 |
200mm / 400mm / 600mm / 800mm光程可選 |
||||
測量精度: |
±1μm |
±0.15μm或±0.5μm |
||||
測量速度: |
1.5秒/10mm光程 |
|||||
測量波長: |
1310 nm |
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